汎銓喜獲台、日「矽光子光損偵測裝置」發明專利 引領矽光子CPO檢測技術

2025/1/13
林庭頡
汎銓(6830)近日獲得台灣及日本「矽光子光損偵測裝置」 的發明專利,目前持續進行歐美韓中專利申請流程中,不僅解決在實際應用中面臨的光損失問題,還推動AI和其他高效能計算領域的技術進步,成為引領矽光子CPO檢測技術先進。

▲ 汎銓(6830)近日獲得台灣及日本「矽光子光損偵測裝置」 的發明專利,目前持續進行歐美韓中專利申請流程中,不僅解決在實際應用中面臨的光損失問題,還推動AI和其他高效能計算領域的技術進步,成為引領矽光子CPO檢測技術先進。

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